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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
COULOSCOPE CMS2系列儀器通過電解退鍍方式測(cè)量鍍層厚度。該鍍層測(cè)量?jī)x器還可使用庫侖法**測(cè)定任何類型底材上的多鍍層厚度。CMS2 STEP版本可對(duì)單種鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試，以檢測(cè)電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）
詳情介紹：
一、CMS2系列鍍層測(cè)量?jī)x器——詳細(xì)介紹
COULOSCOPE CMS2系列儀器通過電解退鍍方式測(cè)量鍍層厚度。該鍍層測(cè)量?jī)x器還可使用庫侖法**測(cè)定任何類型底材上的多鍍層厚度。CMS2 STEP版本可對(duì)單種鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試，以檢測(cè)電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。
二、CMS2系列鍍層測(cè)量?jī)x器——特點(diǎn)
三、CMS2系列鍍層測(cè)量?jī)x器——應(yīng)用
